Se presenta un enfoque eficaz para la simulación de láminas resistivas delgadas en FDTD. El enfoque se basa en la impedancia superficial y la técnica de convolución recursiva lineal a trozos. Este enfoque puede combinarse con un esquema de conformación de modo que pueda aplicarse para tratar una lámina delgada de forma arbitraria. Los resultados de la simulación de un par de ejemplos han demostrado que el enfoque es robusto, estable y bastante preciso.