Se presenta un método en el dominio del tiempo para analizar láminas resistivas finas (TRS) de forma arbitraria. El método utiliza la matriz de impedancia superficial y técnicas de convolución recursiva lineal a trozos. Se presentan los datos extraídos de los pares polo-residuo, que no dependen de la geometría ni del material de las TRS. Se proporciona por primera vez la condición de estabilidad para la simulación en el dominio del tiempo por diferencias finitas (FDTD) de los TRS. Este método se ha combinado con un esquema conforme para analizar TRS de forma arbitraria. Se presentan los resultados de la simulación de tres casos de prueba para demostrar la precisión y estabilidad del método propuesto.