Las pruebas ESD (pruebas de descargas electrostáticas) son utilizadas en todo el mundo por los fabricantes de productos electrónicos e incluyen el uso de numerosas normas de organizaciones como el Instituto Nacional Estadounidense de Normalización (ANSI), el JEDEC y la Comisión Electrotécnica Internacional (CEI), entre otras. Las pruebas de ESD requieren el uso de muchos prototipos de hardware, lo que lleva mucho tiempo y es caro. La capacidad de simular el proceso de prueba de descargas electrostáticas y localizar los puntos de los dispositivos inalámbricos susceptibles de sufrir daños por ESD sería muy valiosa y permitiría a los ingenieros reducir el número de prototipos necesarios para diseñar productos con daños mínimos por ESD.
Esta presentación de la conferencia IEEE MTT-S NEMO 2019 resume una serie de funciones de simulación de ESD en el software de simulación EM 3D XFdtd. Los ingenieros que utilizan XFdtd pueden utilizar las formas de onda del simulador de ESD, definir la resistencia dieléctrica de los materiales y localizar fácilmente los puntos débiles de su diseño de ESD. Además, los componentes de los circuitos electrónicos de una simulación XFdtd se supervisan para detectar sobretensiones y sobrecorrientes. Los componentes que exceden sus parámetros de diseño nominales están sujetos a daños permanentes y son reportados por XFdtd al ingeniero.
La colección de funciones de simulación de ESD de XFdtd proporciona a los ingenieros de ESD una valiosa herramienta que puede utilizarse para optimizar la protección contra ESD durante la fase de diseño, reduciendo así los fallos de ESD durante la fabricación y las reclamaciones de garantía después de la compra.
