Pruebas de descarga electrostática (ESD) es utilizado en todo el mundo por los fabricantes de productos electrónicos e incluye el uso de numerosas normas de organizaciones como el Instituto Nacional Estadounidense de Normalización (ANSI), el JEDEC y la Comisión Electrotécnica Internacional (CEI), entre otras. Las pruebas de ESD requieren el uso de muchos prototipos de hardware, lo que lleva mucho tiempo y es caro. La capacidad de simular el proceso de ensayo de ESD e identificar los puntos de los dispositivos inalámbricos susceptibles de sufrir daños por ESD sería muy valiosa y permitiría a los ingenieros reducir el número de prototipos necesarios para diseñar productos con daños mínimos por ESD.
Esta presentación muestra una nueva capacidad de análisis de ESD basada en la multifísica que permite analizar el proceso de ensayo de ESD mediante simulación por ordenador. Esto ahorrará tiempo y dinero a las empresas al permitir optimizar la protección ESD durante la fase de diseño, reduciendo así el número de prototipos necesarios para construir y probar.
