Simulación y predicción de descargas electrostáticas (ESD) para dispositivos RF

Las pruebas de descarga electrostática (ESD) se utilizan en todo el mundo por los fabricantes de productos electrónicos e incluyen el uso de numerosas normas de organizaciones como el American National Standards Institute (ANSI), JEDEC y la International Electrotechnical Comisión (CEI), entre otros.   Las pruebas ESD requieren el uso de muchos prototipos de hardware, que consumen mucho tiempo y son costosos.  La capacidad de simular el proceso de pruebas ESD y localizar ubicaciones en dispositivos inalámbricos susceptibles a daños por ESD sería extremadamente valiosa y permitiría a los ingenieros reducir el número de prototipos requeridos para diseñar productos para un daño mínimo de ESD.  

Esta presentación muestra una nueva capacidad de análisis ESD basada en multifísica que permite analizar el proceso de pruebas ESD mediante simulación por ordenador.  Esto ahorrará tiempo y dinero a las empresas al permitir que la protección ESD se optimizará durante la fase de diseño, reduciendo así el número de prototipos requeridos para ser construidos y probados.